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日立FIB-SEM三束系統(tǒng)追求的TEM樣品制備工具 在設備及高性能納米材料的評價和分析領域，F(xiàn)IB-SEM已成為*的工具。 近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。

型號：NX2000

更新日期：2023-06-20

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高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。 采用的鏡筒布局，從*材料、*設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內(nèi)實現(xiàn)傳統(tǒng)機型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。

型號：NX9000

更新日期：2023-06-20

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高性能FIB-SEM系統(tǒng)高性能與高靈活性兼?zhèn)? “Ethos”采用日立高新的核心技術--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復合透鏡，不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察，還可以在FIB加工時實現(xiàn)實時觀察。

型號：Ethos NX5000

更新日期：2023-06-20

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日立球差場發(fā)射透射電子顯微鏡200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能 通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。 透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動校正功能，像差校正

型號：HF5000

更新日期：2023-06-20

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日立掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II，憑借全新設計的電子光學系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現(xiàn)最直觀的視野移動。

型號：FlexSEM 1000 II

更新日期：2023-06-20

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超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。 SU7000是一臺實現(xiàn)了信息獲取量的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。

型號：SU7000

更新日期：2023-06-20

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日立鎢燈絲掃描電子顯微鏡日立全新一代高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術，使其低電壓性能大大提升，同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得SU3800的觀察能力進一步提升。SU3800還增加了IFT燈絲監(jiān)控技術、全新的光鏡導航、集成的能譜以及報告導出等功能，使其操作也變得更為簡單。

型號：SU3800

更新日期：2023-06-20

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