日立掃描電子顯微鏡
簡(jiǎn)要描述：日立掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀(guān)察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP"，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)最直觀(guān)的視野移動(dòng)。
產(chǎn)品型號(hào)：FlexSEM 1000 II- 廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間：2023-06-20
- 訪(fǎng) 問(wèn) 量：6148
日立掃描電子顯微鏡 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借*的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀(guān)察時(shí)實(shí)現(xiàn)最高的畫(huà)質(zhì)
全新的用戶(hù)界面，無(wú)論用戶(hù)的熟練程度如何，都可實(shí)現(xiàn)高畫(huà)質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP"，支持觀(guān)察時(shí)的視野搜索和樣品定位
大直徑（30毫米2）無(wú)氮EDS檢測(cè)器，可快速進(jìn)行元素分析*2
*1
設(shè)置到桌面上時(shí)，請(qǐng)將機(jī)體與電源盒分離
*2
選項(xiàng)
小型高性能色譜柱
尺寸雖小，卻具備同類(lèi)產(chǎn)品中最高的分辨率。
金顆粒沉積
加速電壓：20 kV
倍率：60,000倍
信號(hào)：SE
分辨率：4 nm
金顆粒沉積
加速電壓：20 kV
倍率：50,000倍
信號(hào)：BSE
分辨率：5 nm
高畫(huà)質(zhì)
配備可優(yōu)化放射電流的功能，以便在較低的加速電壓下也能獲得足夠的亮度，而獲得噪點(diǎn)小且清晰的圖像。
儲(chǔ)氫合金
加速電壓：5 kV
倍率：30,000倍
信號(hào)：SE、無(wú)金屬涂層
Al-Ni復(fù)合材料
加速電壓：3 kV
倍率：10,000倍
信號(hào)：BSE、無(wú)金屬涂層
可用高畫(huà)質(zhì)和快速觀(guān)察
搭載GUI和自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，讓初學(xué)者也能得心應(yīng)手。只要按一下自動(dòng)對(duì)焦（AFC）、自動(dòng)亮度調(diào)節(jié)（ABCC）按鈕，就可以獲得最佳的圖像。（自動(dòng)調(diào)節(jié)：與以往相比，縮短時(shí)間約13秒*3）當(dāng)然，也可以通過(guò)觸屏進(jìn)行操作。
*3
對(duì)比日立SEM SU1510
全新定位系統(tǒng)“SEM MAP"
“SEM MAP"功能可有效實(shí)現(xiàn)觀(guān)察時(shí)的視野搜索和樣品定位。根據(jù)內(nèi)置攝像頭所拍攝的圖像，定位樣品，一鍵點(diǎn)擊即可移動(dòng)到觀(guān)察部位。
在SEM MAP上導(dǎo)入的圖像會(huì)自動(dòng)進(jìn)行粘貼，并以分布圖的形式顯示。
可放置在桌面上的緊湊型電子顯日立掃描電子顯微鏡 微鏡
寬幅僅為45厘米，緊湊型設(shè)計(jì)，地減小占用空間。機(jī)體僅支持AC100 V 3P電源插座。此外，機(jī)體和電源盒可以分離，從而大幅度提升諸如桌面設(shè)置等的布局靈活性。
FlexSEM 1000 II
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